當(dāng)前位置:首頁(yè)檢測(cè)中心銀河文庫(kù) │ GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗(yàn)

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  • 發(fā)布時(shí)間:2014/10/28 14:08:05
  • 作者:銀河電氣

    GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗(yàn)為GB/T 17626 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第二部分。
    GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗(yàn)規(guī)定了電氣和電子設(shè)備遭受直接來(lái)自操作者和對(duì)鄰近物體的靜電放電時(shí)的抗擾度要求和試驗(yàn)方法,還規(guī)定了不同環(huán)境和安裝條件下試驗(yàn)等級(jí)的范圍和試驗(yàn)程序。
    本部分的目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評(píng)估電氣和電子設(shè)備遭受靜電放電時(shí)的性能。此外,它還包括從人體到靠近關(guān)鍵設(shè)備的物體之間可能的靜電放電。
    本部分的規(guī)定包括:
      ——放電電流的典型波形;
      ——試驗(yàn)等級(jí)的范圍;
      ——試驗(yàn)設(shè)備;
      ——試驗(yàn)配置;
      ——試驗(yàn)程序。
    本部分對(duì)“實(shí)驗(yàn)室”試驗(yàn)和“設(shè)備安裝完成后的試驗(yàn)”提出了技術(shù)要求。
    本部分不對(duì)特殊設(shè)備和系統(tǒng)的試驗(yàn)進(jìn)行規(guī)定。其主要目的是為所有有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提供一個(gè)通用的基本準(zhǔn)則。有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(或設(shè)備的使用者和制造者)負(fù)責(zé)選擇試驗(yàn)和確定試驗(yàn)條件的嚴(yán)酷等級(jí)。
    為了不妨礙協(xié)調(diào)和標(biāo)準(zhǔn)化的任務(wù),極力建議有關(guān)專業(yè)表轉(zhuǎn)化技術(shù)委員會(huì)或用戶和制造商考慮(在其未來(lái)的工作或原標(biāo)準(zhǔn)修改中)采用GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗(yàn)中規(guī)定的相關(guān)抗擾度試驗(yàn)。
    GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗(yàn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2:2001(第1.2版本)。
    GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗(yàn)自實(shí)施之日起代替GB/T 17626.2-1998《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗(yàn)》。


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